PLAN DE MUESTREO: VARIABLE Y POR ATRIBUTO
Asegurar la calidad del lote enviado procurando que éste cumpla con lo requerido por el cliente y que lo satisfaga durante el plazo pactado.
Asegurar la calidad del lote recibido y aceptar solo aquel que cumpla con los requerimientos.
Tipos de planes de muestreo
Los planes de muestreo de aceptación son de dos tipos:
- Por Atributos
Simple: Consiste en un tamaño de muestra (n) y en un numero de aceptación (c), ambos fijados de antemano.
Si en la muestra se encuentra (c) o menos unidades defectuosas entonces el lote es aceptado. Por el contrario, si hay más de (c) artículos defectuosos el lote es rechazado.
Doble
Se debe tomar una primera muestra de tamaño más pequeño que el plan simple para detectar los lotes muy buenos o los muy malos. Si en la primera muestra no se puede decidir si aceptar o rechazar porque la cantidad de unidades defectuosas ni es muy pequeña ni es muy grande, entonces se toma una segunda muestra para decidir si aceptar o rechazar tomando en cuenta las unidades defectuosas encontradas en las dos muestras.
Un plan de muestreo doble se define por:
N: Tamaño de lote
n1:Tamaño de la primera muestra
c1: Numero de aceptación para la primera muestra
n2: Tamaño de la segunda muestra
c2: Número de aceptación para las segunda muestra
Múltiple
Es una extensión del concepto del muestreo doble, se toma una muestra inicial aún más pequeña que el plan simple y si ya se tiene evidencia de muy buena o mala calidad se toma la decisión.
En consecuencia, si no se toma una segunda muestra se trata de decidir.
Si todavía no es posible se continua con el proceso hasta tomar la decisión de aceptar o rechazar
- Por Variables
Se toma una muestra aleatoria del lote y a cada unidad de la muestra la mide una característica de calidad de tipo continuo.
Por ejemplo: longitud, peso, etc.
Aplicable a pruebas destructivas:
- Menor costo de inspección
- Menor tiempo de inspección
- Menor manejo de producto
- Emplea un número menor de trabajadores
- Ventajas
- Desventajas
FUENTE: MONOGRAFIAS.COM
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